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邏輯芯片部分功能檢測測試方案

分類：儀器百科 發(fā)布時間：2024-01-17 1040次瀏覽

芯片功能測試是電子產(chǎn)品制造過程中的一項重要步驟。它包括以下多個方面的測試，其中邏...

芯片功能測試是電子產(chǎn)品制造過程中的一項重要步驟。它包括以下多個方面的測試，其中邏輯測試是比較重要的一部分：它包括功能測試、時序測試、性能測試、穩(wěn)定性測試等，主要通過檢測芯片內(nèi)部的邏輯電路是否正確、時序是否符合規(guī)定、性能是否達標以及工作狀態(tài)是否穩(wěn)定來判斷芯片是否正常。

　　在這個測試過程中，一個滿足需求的信號是比較重要的，

　　首先檢查其外形是否完整，有無引腳脫落或者其他損壞情況。檢查完后可以接入電路，將芯片放置好之后，根據(jù)測試需要對不同引腳接入信號，信號是通過信號源（任意波發(fā)生器）來進行實現(xiàn)的。選擇記錄輸入、輸出波形，并對波形進行分析。運用邏輯電平，通過電平判斷；兩種方式來判斷。

　　主要測試內(nèi)容：

　　通過信號源給邏輯芯片信號，利用示波器測量輸入輸出的脈沖信號的基本參數(shù)，進行分析。

　　使用儀器：

　　泰克三系示波器

　　鼎陽SDG7102A信號源

　　線纜若干

　　測試需求：

　?、兕l率為1kHz，4.5Vp-p，上升沿分別為為2ns，6ns的脈沖信號；

　　②能檢測小上升時間2ns的示波器；

　?、圻壿嬓酒ヅ涞碾娐钒?/span>

　　儀器的選擇：

　　首先尋找一款能夠生成滿足信號要求的信號源：

　　信號源

　　信號源的選擇一方面得考慮可以生成滿足要求的信號，另一方面就得考慮生成信號的質(zhì)量

　　一般建議根據(jù)技術手冊查找后再實際使用儀器進行實際輸出測試，確保理論和實際在一定范圍內(nèi)是吻合的，滿足需求。

　　示波器

　　尋找一款能夠滿足測試需求的示波器，這個就牽扯到示波器帶寬和上升時間的關系，首先要保證的就是儀器的上升時間快于信號的上升時間，那具體快多少，如何選擇呢？

　　這里就不得不提到示波器帶寬和上升時間的關系。具體來說說看

　　-3dB是按照信號的功率增益下降一半得出來的，大家都知道功率與電壓的平方成正比，故當功率增益下降一半時，電壓隨著頻率增加降為原來的0.707倍。

　　比如給一個500MHz帶寬的示波器輸入一個500MHz，峰峰值為1V的方波信號，此時測出的結(jié)果約為0.7V，所以示波器對測量信號的幅度上也會有衰減。

　　根據(jù)上升時間的定義，幅度的誤差必然會導致上升時間的出錯，從而引入了誤差。在日常使用中，對示波器測得的上升時間，必須考慮到示波器對其的影響。


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