主要特點(diǎn)
系統(tǒng)配置靈活，測(cè)試方法齊全
自動(dòng)測(cè)量軟件簡(jiǎn)單易用，方便快捷
一次連接同時(shí)測(cè)量多個(gè)參數(shù)
兼容多種測(cè)試夾具
同軸空氣線測(cè)試方法
適用于0.1GHz~18GHz頻段范圍內(nèi)使用，將被測(cè)樣品加工成環(huán)狀放置在夾具內(nèi)部，隨后利用同軸校準(zhǔn)件完成全二端口校準(zhǔn)，最后在同軸夾具中放置被測(cè)樣品，利用加載樣品后的S參數(shù)、夾具及樣品厚度等參數(shù)進(jìn)行計(jì)算，即可得到樣品在寬頻帶下的電磁參數(shù)，該方法特點(diǎn)是測(cè)試速度快、寬頻帶，一個(gè)樣品即可實(shí)現(xiàn)0.1GHz~18GHz全頻段測(cè)試，同時(shí)針對(duì)粉末樣品，系統(tǒng)配備制樣模具，為用戶制備樣品提供方便。
波導(dǎo)傳輸線測(cè)試方法
適用于0.75GHz~110GHz頻段范圍內(nèi)使用，將被測(cè)樣品加工成矩形塊狀放置在夾具內(nèi)部，隨后利用相應(yīng)頻段的波導(dǎo)校準(zhǔn)件完成全二端口校準(zhǔn)，在校準(zhǔn)方法的選擇上，可分別進(jìn)行SOLT和TRL兩種校準(zhǔn)方式，被測(cè)樣品要求為相應(yīng)頻段的標(biāo)準(zhǔn)波導(dǎo)口徑尺寸，最后在波導(dǎo)夾具中放置被測(cè)樣品，利用加載樣品后的S參數(shù)、夾具及樣品厚度等參數(shù)進(jìn)行計(jì)算，即可得到樣品在相應(yīng)頻段下的電磁參數(shù)，該方法特點(diǎn)是樣品容易制備，測(cè)試精度高。
探頭法測(cè)試方法
適用于0.1GHz~50GHz頻段范圍內(nèi)使用開(kāi)口同軸探頭對(duì)均勻、各向同性的流體、半流體材料的相對(duì)介電常數(shù)及損耗角正切的檢測(cè)，校準(zhǔn)方式為單端口校準(zhǔn)，該方法特點(diǎn)是可對(duì)高損耗型樣品在寬頻帶內(nèi)進(jìn)行測(cè)試。
自由空間法測(cè)試方法
適用于2GHz~500GHz頻段范圍內(nèi)使用，測(cè)試樣品要求為平板狀，通常該方法在40GHz以下選用透鏡天線，40GHz以上選用高增益喇叭天線即可。該方法采用自由空間校準(zhǔn)，特點(diǎn)是校準(zhǔn)方便，可在毫米波及THz頻段對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試。
系統(tǒng)軟件
該軟件具備同軸波導(dǎo)傳輸線法、自由空間法、探頭法等測(cè)試方法，具備豐富的儀器資源庫(kù)，兼容國(guó)內(nèi)外主流測(cè)試儀器，設(shè)置界面簡(jiǎn)易友好，可對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行后處理及報(bào)表生成。
測(cè)試方法選擇功能
根據(jù)選用的測(cè)試方法的不同，會(huì)進(jìn)行相應(yīng)方法的測(cè)試參數(shù)設(shè)置及校準(zhǔn)提示。
電磁參數(shù)計(jì)算功能
根據(jù)樣品校準(zhǔn)后的S參數(shù)計(jì)算被測(cè)材料的介電常數(shù)、磁導(dǎo)率、及電、磁損耗角正切等電磁參數(shù)，同時(shí)具備非磁性材料測(cè)試功能，具備電磁參數(shù)反演反射率功能。
電磁參數(shù)顯示功能
二維坐標(biāo)系顯示復(fù)介電常數(shù)及損耗角正切等參數(shù)。通過(guò)軟件參數(shù)列表選擇不同，數(shù)據(jù)及圖形顯示區(qū)域會(huì)進(jìn)行相應(yīng)選擇項(xiàng)的數(shù)據(jù)及圖形顯示。
測(cè)量結(jié)果分析功能
可選擇并加載多個(gè)已測(cè)量的數(shù)據(jù)文件，同時(shí)顯示多條測(cè)量曲線進(jìn)行比對(duì)。對(duì)于不同波段的測(cè)量數(shù)據(jù)，可同時(shí)繪制測(cè)量曲線，實(shí)現(xiàn)材料電磁參數(shù)在寬頻帶內(nèi)的變化情況。
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