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南京110GHz光波元件分析儀，助力解決光芯片測(cè)試難題

分類：公司新聞 發(fā)布時(shí)間：2023-12-16 1544次瀏覽

110GHz光波元件分析儀，助力解決光芯片測(cè)試難題隨著5G/6G光通信帶來(lái)的流量...

110GHz光波元件分析儀，助力解決光芯片測(cè)試難題

隨著5G/6G光通信帶來(lái)的流量和速率的提升及物聯(lián)網(wǎng)、云計(jì)算帶動(dòng)數(shù)據(jù)中心的大規(guī)模建設(shè)，400G光模塊已成為下一代光通信網(wǎng)絡(luò)和新一代數(shù)據(jù)中心的主流方案，其核心的光芯片帶寬從50/67GHz逐步向110GHz演變。為解決大帶寬光芯片的頻響測(cè)試難題，思儀科技突破多項(xiàng)核心技術(shù)，重磅推出Ceyear 6433P光波元件分析儀(Lightwave Component Analyzer, LCA)，產(chǎn)品調(diào)制頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，頻率響應(yīng)重復(fù)性±1.2dB，可實(shí)現(xiàn)光芯片的帶寬、平坦度、電反射等頻響參數(shù)的測(cè)量。


光芯片研發(fā)和生產(chǎn)中，對(duì)帶寬、電反射等指標(biāo)的測(cè)試，可準(zhǔn)確評(píng)估芯片的性能。6433P依據(jù)被測(cè)芯片的類型，搭配相應(yīng)的光電/電光轉(zhuǎn)換模塊，采用超寬頻帶1.0mm同軸連接，構(gòu)建“微波-電/光-光/電-微波”的測(cè)試鏈路，形成針對(duì)電光及光電芯片的頻響測(cè)試解決方案，如圖2為電光芯片（電光調(diào)制器芯片）頻響測(cè)試解決方案。

光波元件分析儀.png

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