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南通低損耗材料介電性能測(cè)試系統(tǒng) (0.8GHz~170GHz)

產(chǎn)品分類:材料電磁參數(shù)綜合測(cè)試解決方案
產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 低損耗材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試頻率范圍可達(dá)0.8GHz~170GHz,可實(shí)現(xiàn)低損耗材料復(fù)介電常數(shù)高精度測(cè)試。系統(tǒng)由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、測(cè)試夾具、連接器及系統(tǒng)軟件等組成,根據(jù)用戶不同頻率測(cè)試需求,可選用開放...

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產(chǎn)品概述

主要特點(diǎn)

測(cè)試精度高、速度快

系統(tǒng)配置簡(jiǎn)單、易操作

測(cè)量軟件簡(jiǎn)單易用,自動(dòng)化程度高


開放同軸諧振腔測(cè)試方法

開放同軸諧振腔測(cè)試法根據(jù)用戶需求可選用0.8GHz/2.45GHz/4.2GHz/6GHz/7.6GHz、1GHz/3GHz/5GHz/7GHz/9GHz、2GHz/6GHz/10GHz/14GHz/18GHz三種規(guī)格腔體進(jìn)行測(cè)試。開放同軸諧振腔操作方便,樣品要求低,僅需將樣品加工成1cm見方以上、表面光滑的方片即可,樣品放置在諧振腔頂端。該方法特點(diǎn)是測(cè)試方便,可在一定頻帶內(nèi)完成多個(gè)頻點(diǎn)的高精度測(cè)試。


分體諧振腔測(cè)試方法

分體式諧振腔為兩個(gè)對(duì)稱半圓柱結(jié)構(gòu),待測(cè)試樣品加工成平板狀放置在兩個(gè)半腔之間。利用加載樣品前后諧振特性參數(shù)改變進(jìn)行計(jì)算得到材料相對(duì)介電常數(shù)和損耗角正切。分體諧振腔為單點(diǎn)頻測(cè)試諧振腔,可根據(jù)用戶測(cè)試頻點(diǎn)需求定制腔體。


準(zhǔn)光學(xué)諧振腔測(cè)試方法

準(zhǔn)光學(xué)諧振腔測(cè)試平臺(tái)為開放式結(jié)構(gòu),具有超寬頻帶(12GHz~170GHz)測(cè)試的優(yōu)點(diǎn),在損耗測(cè)量精度上具備更大優(yōu)勢(shì)。根據(jù)用戶不同測(cè)試頻率需求可選配不同配置的準(zhǔn)光學(xué)諧振腔測(cè)試平臺(tái)。


微擾諧振腔測(cè)試方法

測(cè)試采用圓柱微擾諧振腔測(cè)試夾具,諧振腔測(cè)試為單點(diǎn)頻測(cè)試,測(cè)試樣品為長(zhǎng)條形圓柱或矩形條,根據(jù)用戶需求定制測(cè)試頻點(diǎn),最高頻率可到20GHz。


系統(tǒng)軟件

低損耗材料介電性能測(cè)試系統(tǒng)軟件可以在0.8GHz~170GHz頻段多頻點(diǎn)測(cè)量固體介質(zhì)材料的介電常數(shù)、損耗角正切等電性能參數(shù),軟件可自動(dòng)進(jìn)行多頻點(diǎn)識(shí)別測(cè)試。


測(cè)試方法選擇功能

根據(jù)選用的測(cè)試方法的不同,會(huì)進(jìn)行相應(yīng)方法的測(cè)試參數(shù)設(shè)置及校準(zhǔn)提示。


介電性能計(jì)算功能

根據(jù)空腔及加載樣品后的S參數(shù),可對(duì)低損耗類樣品的Q值及頻率進(jìn)行識(shí)別并提取,通過軟件實(shí)現(xiàn)寬頻帶下對(duì)樣品多頻點(diǎn)計(jì)算功能。