Ceyear思儀新產(chǎn)品 3674系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀3674B、3674C、3674D、3674E、3674F 、3674G 、3674H、3674K、3674L、3674N、3674P/PA

主機(jī)型號

3674B          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz～9GHz

3674C          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz～14GHz

3674D          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz～20GHz

3674E          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz～26.5GHz

3674F          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz～32GHz

3674G          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz～44GHz

3674H          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz～50GHz

3674K          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz～53GHz

3674L          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz～67GHz

3674N         矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz～90GHz

3674P/PA   矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz～110GHz

選件型號

3674-006     英文選件                                    配置英文前后面板和英文操作系統(tǒng)。

3674-009     二端口擴(kuò)頻控制機(jī)                     用于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀頻率擴(kuò)展，實現(xiàn)二端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀擴(kuò)展功能。必選S20， 支持3674E/F/G/H/K/L

3674-010     四端口擴(kuò)頻控制機(jī)                     用于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀頻率擴(kuò)展，實現(xiàn)四端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀擴(kuò)展功能。必選S20， 支持3674E/F/G/H/K/L

3674-011     110GHz同軸擴(kuò)展模塊               用于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀頻率擴(kuò)展，實現(xiàn)10MHz~110GHz同軸S參數(shù)測量。必選009/010+S20, 支持3674E/F/G/H/K/L

3674-060     外置操作面板選件                     用于擴(kuò)展前面板，實現(xiàn)遠(yuǎn)距離操控，增加按鍵數(shù)量。

3674-061     延伸工作臺選件                        用于測試時的桌面延伸，長×寬=500mm×350mm。

3674-062     上機(jī)柜選件                               機(jī)柜安裝結(jié)構(gòu)件。

3674X-003   噪聲系數(shù)測量選件                    用于S參數(shù)、噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)的測量。注：二端口電子校準(zhǔn)件和噪聲源需要單獨購置。必選201/401+204/404 支持3674E/F/G/H

3674X-008   脈沖測量選件                           用于脈沖狀態(tài)下S參數(shù)測量，端口1、3輸出脈沖調(diào)制信號。

3674X-018   多端口擴(kuò)展裝置                        用于擴(kuò)展矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀為16端口。必選400+404， 支持3674E/F/G/H/K/L

3674X-023   混頻器/變頻器矢量測量選件     用于混頻器矢量參數(shù)測量。必選204/404+S20

3674X-200    二端口標(biāo)準(zhǔn)型                           二端口S參數(shù)測量。

3674X-201    二端口程控步進(jìn)衰減器選件      配置源通路2個程控步進(jìn)衰減器，接收機(jī)通路2個程控步進(jìn)衰減器。必選204

3674X-203    二端口500Hz低頻擴(kuò)展選件      頻率范圍下限可擴(kuò)展至500Hz。必選204 與205互斥

3674X-204    二端口面板跳線                        對測試裝置進(jìn)行擴(kuò)展。

3674X-205    二端口偏置T選件                      用于端口輸出直流偏置電壓。必選201+204 與203互斥

3674X-400    四端口標(biāo)準(zhǔn)型                            雙源激勵四端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀配置。

3674X-401    四端口程控步進(jìn)衰減器選件       配置源通路4個程控步進(jìn)衰減器，接收機(jī)通路4個程控步進(jìn)衰減器。必選400+404

3674X-402    有源互調(diào)失真測量選件              用于有源互調(diào)失真信號測量。必選400+404+S20

3674X-403    四端口500Hz低頻擴(kuò)展選件       頻率范圍下限可擴(kuò)展至500Hz。必選400+404 與405互斥

3674X-404    四端口面板跳線                         對測試裝置進(jìn)行擴(kuò)展。必選400

3674X-405    四端口偏置T選件                       用于端口輸出直流偏置電壓。必選400+401+404 與403互斥

3674X-S05    S參數(shù)信號完整性分析選件         用于分析系統(tǒng)的頻域、時域TDR和串?dāng)_等信號完整性特性，可自動將圖形曲線轉(zhuǎn)換成測試報告。

軟件型號

3674X-S07     AFR自動夾具移除選件     用于單端及平衡器件測量夾具自動測試及移除。

3674X-S10     時域測量選件                   用于時域測量，可確定器件、夾具或電纜中不連續(xù)位置并進(jìn)行分析。

3674X-S11     時域分析選件            用于TDR時域阻抗測試、眼圖分析等。

3674X-S16     真差分測量選件               用于真實差模、共模激勵平衡參數(shù)測量。必選400+404+S28

3674X-S18     快速連續(xù)波掃描               使用FIFO緩沖法，即時讀取數(shù)據(jù)。

3674X-S20     頻偏測量選件                   用于頻率偏移測量。必選204/404

3674X-S22     混頻器/變頻器標(biāo)量測量選件     用于混頻器標(biāo)量參數(shù)測量。必選S20

3674X-S24     嵌入式本振變頻器測量選件       用于內(nèi)嵌本振變頻器測量。必選204/404+S20+S22/023

3674X-S26     增益壓縮二維掃描測量選件       用于放大器等增益壓縮二維掃描測量。

3674X-S28     相位掃描選件                            用于相位掃描測量。必選400

3674X-S30     頻譜分析選件                            用于提供多通道頻譜測試功能。

3674X-S31     THD測量選件                            用于差分放大器總諧波失真測試功能。必選400+S28

標(biāo)配附件

電源線組件

USB鍵盤/鼠標(biāo)

用戶手冊

產(chǎn)品合格證

鋁合金箱

產(chǎn)品綜述

Ceyear 3674系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是技術(shù)創(chuàng)新的之作，可以輕松應(yīng)對半導(dǎo)體芯片測試、材料測試、天線測試、高速線纜測試、微波部組件測試等帶來的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。出色的射頻特性、靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相輔相成，只需一次連接即可完成多種測量任務(wù)。創(chuàng)新的人機(jī)交互設(shè)計可幫助您快速便捷地完成所需的測量設(shè)置，超大觸摸屏為您帶來靈活、高效的操作體驗。

功能特點

脈沖S參數(shù)測量

內(nèi)置4路脈沖發(fā)生器，用于內(nèi)部源調(diào)制、中頻門控制，并從后面板輸出。每路脈沖發(fā)生器的脈寬和延時獨立可設(shè)。

源調(diào)制來源包括后面板輸入、內(nèi)部脈沖發(fā)生器和常開、常閉等多種狀態(tài)，既可利用外部脈沖對矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的源進(jìn)行調(diào)制，也可以使其處于連續(xù)波狀態(tài)，通過觸發(fā)同步模式進(jìn)行測量，為T/R組件、天線收發(fā)模塊等測試提供有力支撐。

混頻器/變頻器標(biāo)量測量分析

提供完善的混頻器/變頻器特性設(shè)置，支持雙階本振、外部本振源輸入；支持線性掃、功率掃、段掃等多種掃描類型；通過簡單設(shè)置可自動完成復(fù)雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻等特性計算；支持源端口功率、本振端口功率、衰減、功率掃特性設(shè)置等。

混頻器/變頻器矢量測量分析

提供完整的混頻器/變頻器幅度響應(yīng)、相位及時延響應(yīng)測量能力。校準(zhǔn)過程中引入雙混頻器實現(xiàn)參考通路變頻與校準(zhǔn)通路的變頻。引入的雙混頻器要求與被測件的變頻特性一致，且校準(zhǔn)混頻器要求變頻特性互易。

單次連接即可完成混頻器/變頻器復(fù)數(shù)特性測量，幅度和相位測量精度高。

增益壓縮測量

增益壓縮測量功能能夠通過一次連接、一次校準(zhǔn)完成有源器件在工作頻帶內(nèi)的線性增益、壓縮點增益、壓縮點輸入功率、壓縮點輸出功率、線性輸入匹配等壓縮參數(shù)測量。

增益壓縮掃描三維圖繪制

提供三維視圖功能，更好地展示被測件在激勵狀態(tài)下的工作性能，另外還可以展示頻率切面和功率切面，可以直觀展現(xiàn)被測件在每個頻率點和每個功率點的特性。

噪聲系數(shù)測量

一次連接，可同時測試S參數(shù)、噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)、增益壓縮和變頻增益等多種參數(shù)?；诶湓丛肼曄禂?shù)測試方法，可進(jìn)行的噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測試。通過構(gòu)建先進(jìn)的噪聲相關(guān)矩陣模型，結(jié)合矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀精密的S參數(shù)校準(zhǔn)，適用于較小噪聲系數(shù)被測件的測試。測量動態(tài)范圍更大可達(dá)55dB，適用于較大增益被測件的測試。

頻譜測量分析

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的每個端口都可以完成被測件的輸入譜和輸出譜的測量，可在小的分辨率帶寬下快速地定位被測件雜散譜和諧波的狀態(tài)。

針對有源器件的測試，頻譜測量功能可提供更多的測量參數(shù)，單臺儀器通過單次連接可實現(xiàn)常規(guī)的S參數(shù)測試、雜散和諧波的定位測量；完備的比值和測量誤差修正技術(shù)可提供更準(zhǔn)確的測量結(jié)果。

信號完整性測量分析

具備強(qiáng)大的信號完整性測量分析能力，可提供微米級的空間分辨率。單一視圖同時完成時域和頻域測試分析，可以精準(zhǔn)測試傳輸線上阻抗特性的變化情況；便捷的近端與遠(yuǎn)端串?dāng)_測試，用于測試多條傳輸線之間相互影響的程度。

時域分析選件具備基于網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的虛擬眼圖生成及分析功能。根據(jù)不同的高速數(shù)字通信標(biāo)準(zhǔn)，時域分析選件可以使用預(yù)先定義好的眼圖模板進(jìn)行高效率Pass/Fail測試。

總諧波失真（THD）測量分析

寬頻帶測試，可用于真差分激勵下的輸入輸出功率、增益、諧波總失真等參數(shù)的分析，簡化差分器件的諧波性能測試復(fù)雜度。

單次校準(zhǔn)同時完成多通道的誤差修正，設(shè)置和測量參數(shù)的編輯可通過XML文件的方式進(jìn)行，一鍵實現(xiàn)參數(shù)導(dǎo)入。

自動夾具移除

對于非標(biāo)準(zhǔn)接頭器件測試，如封裝微波器件、在片器件等，此類器件無法與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀直接相連。通常使用夾具將被測件連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上，但同時夾具也引入了測量誤差。自動夾具移除功能可以進(jìn)行夾具參數(shù)的提取、存儲以及夾具去嵌入，終獲得被測件的真實參數(shù)。

的用戶體驗

界面簡潔直觀，便于操作，提高測試效率

外設(shè)接口豐富，靈活實用

1-10MHz外參考輸入/輸出接口

2-110V/220V自適應(yīng)電源輸入

3-可拆卸CPU模塊，配置硬盤、LAN、DP、USB、GPIB接口

4-激勵輸出、本振輸出等接口，提供靈活的測量配置，提供靈活的測量配置

5-外中頻輸入接口，脈沖輸入輸出接口

6-偏置T配置輸入接口

7-自動測試接口，觸發(fā)輸入/輸出接口，噪聲源電源接口